超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试
DB44/T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
起草单位：中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公司
起草人：文光俊、李建、蒋晖、赵文强、王耀、徐永键、徐广健、陆许明、罗国章、程文彬、冷小冰、闫胜利、万其明、王伟
DB44/T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
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DB44/T 1905-2016标准状态
- 发布于：2016-09-29
- 实施于：2016-12-29
- *非实时更新以实际为准