DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法
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DB13/T 5696-2023标准状态
- 发布于：2023-05-06
- 实施于：2023-06-06
- *非实时更新以实际为准
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