国家标准 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
起草单位：上海科技大学。
GB/T 5594.8─1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
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GB/T 5594.8-1985标准状态
- 发布于：1985-11-27
- 实施于：1986-12-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
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起草单位：上海科技大学。