国家标准 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
起草单位：上海元件五厂。
GB/T 14031─1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
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GB/T 14031-1992标准状态
- 发布于：1992-12-17
- 实施于：1993-08-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
起草单位：上海元件五厂。