国家标准 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
起草单位：上海有色金属研究所。
GB/T 6617─1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
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GB/T 6617-1995标准状态
- 发布于：1995-04-18
- 实施于：1995-12-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
起草单位：上海有色金属研究所。