国家标准 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
起草单位：电子工业部标准化研究所。
GB/T 15653─1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
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GB/T 15653-1995标准状态
- 发布于：1995-07-24
- 实施于：1996-04-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
起草单位：电子工业部标准化研究所。