国家标准 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所。
起草人：崔波 、陈海蓉 。
GB/T 4937.2─2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
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GB/T 4937.2-2006标准状态
- 发布于：2006-08-23
- 实施于：2007-02-01
- *非实时更新以实际为准