国家标准 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
起草单位：峨嵋半导体材料厂。
起草人：江莉 、杨旭 。
GB/T 1553─2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
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GB/T 1553-2009标准状态
- 发布于：2009-10-30
- 实施于：2010-06-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
起草单位：峨嵋半导体材料厂。
起草人：江莉 、杨旭 。