国家标准 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
起草单位：四川新光硅业科技有限责任公司。
起草人：梁洪 、过惠芬 、吴道荣 。
GB/T 24581─2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
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GB/T 24581-2009标准状态
- 发布于：2009-10-30
- 实施于：2010-06-01
- *非实时更新以实际为准