国家标准 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
起草单位：中国电子技术标准化研究所。
起草人：黄英华 、刘筠 、张建勇 、蒋迪宝 。
GB/T 24468─2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
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GB/T 24468-2009标准状态
- 发布于：2009-10-15
- 实施于：2009-12-01
- *非实时更新以实际为准