国家标准 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
起草人：章安辉 、黄庆涛 、何秀坤 。
GB/T 24576─2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
GB/T 24576-2009 下载需要10金币，升级会员免费下载。
GB/T 24576-2009标准状态
- 发布于：2009-10-30
- 实施于：2010-06-01
- *非实时更新以实际为准