国家标准 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法
GB/T 25758.1-2010 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法
起草单位：上海泰司检测科技有限公司、上海英华无损检测技术有限公司、上海材料研究所、上海诚友实业有限公司等。
起草人：孔凡琴 、李博 、章怡明 、金宇飞等 。
GB/T 25758.1─2010 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法
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GB/T 25758.1-2010标准状态
- 发布于：2010-12-23
- 实施于：2011-10-01
- *非实时更新以实际为准