国家标准 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
起草单位：南京中锗科技股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司。
起草人：张莉萍 、焦欣文 、王学武 、普世坤 。
GB/T 26074─2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
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GB/T 26074-2010标准状态
- 发布于：2011-01-10
- 实施于：2011-10-01
- *非实时更新以实际为准