国家标准 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
起草人：何秀坤 、董颜辉 、周智慧 、段曙光等 。
GB/T 14863─2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
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GB/T 14863-2013标准状态
- 发布于：2013-12-31
- 实施于：2014-08-15
- *非实时更新以实际为准