国家标准 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定
GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定
起草单位：中国计量科学研究院。
起草人：王海 、宋小平 、王梅玲 、高思田 、冯流星 。
GB/T 30701─2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定
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GB/T 30701-2014标准状态
- 发布于：2014-03-27
- 实施于：2014-12-01
- *非实时更新以实际为准