国家标准 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司。
起草人：江树儒 、曹易 、高永泉 、翟文斌 。
GB/T 5594.8─2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
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GB/T 5594.8-2015标准状态
- 发布于：2015-05-15
- 实施于：2016-01-01
- *非实时更新以实际为准