国家标准 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法
GB/T 33049-2016 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法
起草单位：深圳市盛波光电科技有限公司。
起草人：邱韶华 、钟伟宏 、陈敏 、钱琨 、欧阳慧玲 、仲伟虹 、张云飞 。
GB/T 33049─2016 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法
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GB/T 33049-2016标准状态
- 发布于：2016-10-13
- 实施于：2017-05-01
- *非实时更新以实际为准