国家标准 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
起草人:卓尚军 、钱荣 、董疆丽 、申如香 、盛成 、高捷 、郑文平 。
上一篇:GB/T 4333.5─2016 硅铁 硅、锰、铝、钙、铬和铁含量的测定 波长色散X─射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)