国家标准 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
起草单位：中国科学院上海微系统与信息技术研究所。
起草人：陈一峰 、陈小刚 、宋志棠 。
GB/T 33657─2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
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GB/T 33657-2017标准状态
- 发布于：2017-05-12
- 实施于：2017-12-01
- *非实时更新以实际为准