国家标准 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
起草单位：北京大学、中机生产力促进中心、北京必创科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中北大学。
起草人：张威 、程红兵 、陈得民 、李海斌 、崔波 、石云波 、朱悦 。
GB/T 33922─2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
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GB/T 33922-2017标准状态
- 发布于：2017-07-12
- 实施于：2018-02-01
- *非实时更新以实际为准