国家标准 半导体集成电路 模拟开关测试方法
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子股份有限公司、西北工业大学。
起草人：张冰 、李雷 、陈志培 、闫辉 、朱华 、黄德东 。
GB/T 14028─2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
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GB/T 14028-2018标准状态
- 发布于：2018-03-15
- 实施于：2018-08-01
- *非实时更新以实际为准