国家标准 发光二极管芯片点测方法
GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
起草单位：三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司。
起草人：蔡伟智 、梁奋 、刘秀娟 、李国煌 、吕艳 、金威 、邵晓娟 、周钢 、时军朋 。
GB/T 36613─2018 发光二极管芯片点测方法
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GB/T 36613-2018标准状态
- 发布于：2018-09-17
- 实施于：2019-01-01
- *非实时更新以实际为准