GB/T 43610─2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法

此标准描述了用透射电子显微术测定线状品体表观生长方向的方法。

此标准适用于通过各种方法制备的所有种类的线状品体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM）的加速电压和样品白身等条件的制约。此标准适用于直径（或厚度或宽度）为儿十纳米到一百纳米左右的晶体材料。

此标准不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。

GB/T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法

起草单位：北京科技大学。

起草人：权茂华 、柳得橹 。