此标准规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。
此标准适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。
起草人：赵元富 、陈雷 、王亮 、岳素格 、郑宏超 、李哲 、林建京 、李永峰 、陈淼 、王汉宁 。
GB/T 43226─2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
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GB/T 43226-2023标准状态
- 发布于：2023-09-07
- 实施于：2024-01-01
- *非实时更新以实际为准