GB/T 22319.6─2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

此标准适用于石英晶体元件激励电平相关性（DLD）的测量。此标准规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC60444-5的π型网络为基础，适用于此标准所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础，适用于此标准所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

起草单位：郑州原创电子科技有限公司、北京晨晶电子有限公司、武汉海创电子股份有限公司。

起草人：王国军 、宫桂英 、毛晶 。