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SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

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SJ/T 11765-2020标准状态

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晶体管低频噪声参数测试方法简介

适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

起草人:罗宏伟、胡为、王小强 等

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