适用于电子元器件1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数测试
SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
起草人：罗宏伟、张伟、胡为 等
SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
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SJ/T 11769-2020标准状态
- 发布于：2020-12-09
- 实施于：2021-04-01
- *非实时更新以实际为准