适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
起草人：余永涛、胡为、张伟 等
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
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SJ/T 11766-2020标准状态
- 发布于：2020-12-09
- 实施于：2021-04-01
- *非实时更新以实际为准