HG/T 5659-2019 光学功能薄膜 黄变的测量方法
起草单位：中国兵器工业集团第五三研究所、合肥乐凯科技产业有限公司、宁波长阳科技股份有限公司
起草人：张瑞蓉、邱桂花、王益珂 等
HG/T 5659-2019 光学功能薄膜 黄变的测量方法
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HG/T 5659-2019标准状态
- 发布于：2019-12-24
- 实施于：2020-07-01
- *非实时更新以实际为准
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起草单位：中国兵器工业集团第五三研究所、合肥乐凯科技产业有限公司、宁波长阳科技股份有限公司
起草人：张瑞蓉、邱桂花、王益珂 等