SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人：张戈、赵英
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SJ/T 2658.8-2015标准状态
- 发布于：2015-10-10
- 实施于：2016-04-01
- *非实时更新以实际为准
SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人：张戈、赵英