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YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

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YS/T 679-2008标准状态

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非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法简介

YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

起草单位:有研半导体材料股份有限公司

起草人:孙燕、卢立延 等

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