JC/T 2656-2022 碳化硅陶瓷制品工业计算机层析成像(CT)检测

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本文件规定了碳化硅陶瓷制品工业计算机层析成像（CT）检测的原理、试验条件、仪器设备、样品、试验步骤、试验数据处理、试验报告。本文件适用于碳化硅陶瓷制品内部缺陷的工业CT检测，其他陶瓷材料制品内部缺陷的工业CT检测可参照使用。

起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所。

起草人：杨晓、杨金晶、黄政仁、刘学建、陈忠明、陈健、吴永庆、姚秀敏、刘桂玲、张辉、刘岩

JC/T 2656-2022 碳化硅陶瓷制品 工业计算机层析成像(CT)检测