SJ/T 11581-2016 LED模块加速寿命试验方法
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、国家半导体器件质量监督检验中心
起草人:张瑞霞、张晨朝、赵敏 等
上一篇:SN/T 3034-2011 出口水产品中无机汞、甲基汞和乙基汞的测定 液相色谱-原子荧光光谱联用(LC-AFS)法