SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等
起草人：安琪、林建京、张崤君 等
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SJ/T 11705-2018标准状态
- 发布于：2018-02-09
- 实施于：2018-04-01
- *非实时更新以实际为准
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起草单位：中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等
起草人：安琪、林建京、张崤君 等