SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司
起草人：钟明琛、胡海涛、李秦华 等
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
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SJ/T 11702-2018标准状态
- 发布于：2018-02-09
- 实施于：2018-04-01
- *非实时更新以实际为准
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起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司
起草人：钟明琛、胡海涛、李秦华 等