SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等
起草人：王琪、张崤君、贾松良 等
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SJ/T 11703-2018标准状态
- 发布于：2018-02-09
- 实施于：2018-04-01
- *非实时更新以实际为准
SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等
起草人：王琪、张崤君、贾松良 等