SN/T 4417-2016 常见食品过敏原可视芯片检测方法
起草单位：中国检验检疫科学研究院、山东出入境检验检疫局、北京出入境检验检疫局、辽宁出入境检验检疫局、上海出入境检验检疫局、广东出入境检验检疫局、天津出入境检验检疫局等
起草人：陈颖、韩建勋、王玮 等
SN/T 4417-2016 常见食品过敏原可视芯片检测方法
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SN/T 4417-2016标准状态
- 发布于：2016-03-09
- 实施于：2016-10-01
- *非实时更新以实际为准