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SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
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SJ/T 11471-2014标准状态
发布于:
2014-10-14
实施于:
2015-04-01
*非实时更新以实际为准
发光二极管外延片测试方法简介
SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
起草单位:上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司
起草人:潘尧波、丁晓民
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