SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
起草人：鲍超、胡爱华 等
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
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SJ/T 11399-2009标准状态
- 发布于：2009-11-17
- 实施于：2010-01-01
- *非实时更新以实际为准
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起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
起草人：鲍超、胡爱华 等