内容简要 1范围；2规范性引用文件；3术语和定义；4原理；5仪器；6电解液；7影响测量准确度的因素；8测试步骤；9锡厚计算；10测量不确定度；11测试报告。…
T/XAI 8-2021 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法
主要起草人：方磊、杨洁、孙彬、王健、孟庆才、李辉、申胜男。
起草单位：深圳上达（股份）有限公司、江苏上达电子有限公司、江苏华商企业管理咨询服务有限公司、武汉大学。
范围：本文件规定了覆晶薄膜化锡厚度测试方法库仑法的测试条件、测试方法、判定标准、测试记录和报告。本文件适用于库仑法测试覆晶薄膜锡厚。