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T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序

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电子元器件故障树分析方法与程序简介

内容简要 本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求,解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题,可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻…

T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序

主要起草人:何小琦,陈媛,恩云飞,来萍,宋芳芳,王蕴辉,支越,路国光,任艳

起草单位:工业和信息化部电子第五研究所

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