内容简要 本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠…
T/CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法
主要起草人：缪向水、何强、童浩、程晓敏、刘峻、李硕、任玲玲、李锟。
起草单位：华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院。
范围：本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。