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T/CASAS 028-2023 Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法

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T/CASAS 028-2023标准状态

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Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法简介

内容简要 T/CASAS028—2023《Sub-6GHzGaN射频器件可靠性筛选和验收方法》描述了Sub-6GHzGaN射频产品的可靠性筛选和验收方法和详细要求,对提升…

T/CASAS 028-2023 Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法

主要起草人:默江辉、吴文刚、王金延、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏。

起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

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