T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

内容简要 T/CASAS030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波…

T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

主要起草人：周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏。

起草单位：中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。