国家标准 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
GB/T 24582-2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
起草单位：新光硅业科技责任有限公司。
起草人：王波 、过惠芬 、吴道荣 、梁洪 、敖细平 。
GB/T 24582─2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
GB/T 24582-2009 下载需要10金币，升级会员免费下载。
GB/T 24582-2009标准状态
- 发布于：2009-10-30
- 实施于：2010-06-01
- *非实时更新以实际为准