国家标准 硅单晶电阻率测定方法
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
起草人：李静 、何秀坤 、张继荣 、段曙光 。
GB/T 1551─2009 硅单晶电阻率测定方法
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GB/T 1551-2009标准状态
- 发布于：2009-10-30
- 实施于：2010-06-01
- *非实时更新以实际为准
国家标准 硅单晶电阻率测定方法
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
起草人：李静 、何秀坤 、张继荣 、段曙光 。