国家标准 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所。
起草人：陈海蓉 、李丽霞 、崔波 。
GB/T 4937.3─2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
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GB/T 4937.3-2012标准状态
- 发布于：2012-11-05
- 实施于：2013-02-15
- *非实时更新以实际为准