GB/T 35007─2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

国家标准 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。

起草人：陈雁 、罗彬 、郭超 、王会影 、李锟 、蔡志刚 、邬海忠 、钟科 。