此标准规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。
此标准适用于测定晶粒内不高于1X1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
起草单位：首钢集团有限公司、国标（北京）检验认证有限公司。
起草人：孟杨 、鞠新华 、朱国森 、付新 、马通达 、崔桂彬 、史学星 、闫贺 、王泽鹏 、王雅晴 、严春莲 。