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GB/T 43227─2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

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GB/T 43227-2023标准状态

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宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法简介

此标准规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。

此标准适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。

GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

起草单位:北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。

起草人:赵元富 、姚全斌 、林鹏荣 、冯小成 、荆林晓 、李洪剑 、付明洋 、林建京 、曹燕红 、刘思嘉 、刘征宇 。

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